1.           .繼電保護綜合測試儀.    型號；MHY-20219

.繼電保護綜合測試儀.  適用于低壓供電系統繼電保護裝置的調整與試驗。能成各種常用繼電器的校驗、二次回路檢驗、檢查互感器性、檢定斷路器跳閘機構動作值以及對斷路器的分合閘時間測量等。HA-HYJB—Ⅲ型繼電保護綜合試驗儀具有示儀表度、能、性能穩定、操作簡便、移動靈活等點。

1.2輸出能與主要數據

1、直電壓輸出：0—350（V）連續可調，輸出容量：960VA

2、交電壓輸出：0—380（V）連續可調，輸出容量：400VA

3、直電輸出：0—10A連續可調，輸出容量80VA

5、交電輸出：0—10A   0—100A 容量1000VA

6、伏安性測試：電壓0~240V 電0~5A

7、交短路電壓模擬輸出

8、直電壓選擇輸出（可用于靜態繼電器的操作電源）

輸出電壓：24V、48V、110V、220V，輸出電均為0.4A。

9、  裝置度：0.5

10、接點動作時間測試：0~9999s      

11、分辨率：1ms

12、外形尺寸：550*410*340mm3

13、重量：33kg

2.                塞曼效應實驗儀(電磁型) 型號：MHY-23028

1896年,荷蘭物理學家塞曼(P.Zeeman)發現當光源放在足夠強的磁場中時，原來的條光譜線分裂成幾條光譜線，分裂的譜線成分是偏振的，分裂的條數隨能的類別而不同，后人稱此現象為塞曼效應。 塞曼效應是繼英物理學家法拉1845年發現磁致旋光效應，克爾1876年發現磁光克爾效應之后，發現的又個磁光效應。 塞曼效應不僅證實了洛侖茲電子論的準確性，而且為 湯姆遜 發現電子提供了證據。還證實了原子具有磁矩并且空間取向是量子化的。1902年，塞曼與洛侖茲因這發現共同獲得了諾貝爾物理學獎。直到今日，塞曼效應仍舊是研究原子能結構的重要方法。 

塞曼效應實驗儀具有磁場穩定，測量方便，實驗分裂環清晰等點，適用于等院校近代物理實驗和性實驗。 

應用該實驗儀主要成以下實驗： 

1．掌握觀測塞曼效應的實驗方法， 加深對原子磁矩及空間量子化等原子物理學概念的理解。 

2．觀察汞原子 546.1nm譜線的分裂現象以及它們偏振狀態，由塞曼裂距計算電子荷質比。 

3．學習法布里-珀羅標準具的調節方法 

4．學習CCD器件在光譜測量中的應用。（其中CCD器件、采集系統及實驗分析軟件選購） 

儀器主要參數： 

1. 電磁鐵 zui大磁感應強度 1.28T 勵磁電源 zui大輸出電 5A zui大輸出電壓 30V 

2．低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm 

3．法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm 

4．干涉濾光片 中心波長 546.1nm 

5. 讀數顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍8mm 

 3.              法拉效應塞曼效應綜合實驗儀         型號；MHY-23027

1945年，法拉（Faraday）在探索電磁現象和光學現象之間的時，發現了種現象，當束平面偏振光穿過介質時，如果在介質中，沿光的傳播方向上加個磁場，就會觀察到光經過樣品后偏振面轉過個角度，亦即磁場使介質具有了旋光性，這種現象后來稱為法拉效應。1896年,荷蘭物理學家塞曼(P.Zeeman)發現當光源放在足夠強的磁場中時，原來的條光譜線分裂成幾條光譜線，分裂的譜線成分是偏振的，分裂的條數隨能的類別而不同，后人稱此現象為塞曼效應。法拉效應和塞 曼 效應是19紀實驗物理學家的重要成就之，它們有力的支持了光的電磁理論。 

本公司的法拉效應塞 曼 效應綜合實驗儀是在I型的基礎上改而成，將原來維調節的氦氖激光器改為兩維調節的半導體激光器，這樣成法拉效應時調節更加準確方便，并且激光輸出率更加穩定。電磁鐵中心磁場強度也比以前有了顯著提，zui大可以達到1.4T。測角儀器將原來的游標測量的方法改為螺旋測微（將角位移轉換為直線位移），這樣讀數更加方便。該實驗儀可以作為大院校光學及近代物理實驗教學使用，也可以作為測量材料性、 光譜及磁光 作用的研究應用。 

儀器主要參數： 

1. 半導體激光器 波長 650nm 輸出率 >1.5mW 光斑直徑 約1mm 

2. 電磁鐵 zui大磁感應強度約1.35T（與勵磁電源有關） 

3. 勵磁電源 zui大輸出電 5A zui大輸出電壓 30V 

4．低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm 

5．法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm 

6．讀數顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍 8mm 

7．法拉效應 zui小測角約 2分 

4.           法拉－塞曼效應綜合實驗儀          型號；MHY-23026

1945年，法拉（Faraday）在探索電磁現象和光學現象之間的時，發現了種現象，當束平面偏振光穿過介質時，如果在介質中，沿光的傳播方向上加個磁場，就會觀察到光經過樣品后偏振面轉過個角度，亦即磁場使介質具有了旋光性，這種現象后來稱為法拉效應。1896年,荷蘭物理學家塞曼(P.Zeeman)發現當光源放在足夠強的磁場中時，原來的條光譜線分裂成幾條光譜線，分裂的譜線成分是偏振的，分裂的條數隨能的類別而不同，后人稱此現象為塞曼效應。法拉效應和塞 曼 效應是19紀實驗物理學家的重要成就之，它們有力的支持了光的電磁理論，隨著現代的發展，這兩種經典的實驗效應被廣泛應用于激光、磁光及凝聚 態域 。 

本公司的 MHY-23026型法拉效應塞 曼 效應綜合實驗儀是將兩種實驗效應合理地整合成臺、多測量實驗教學儀器。應用該實驗儀可以成法拉效應和塞曼效應的轉換測量，學習磁光作用的性。該實驗儀可以作為大院校光學及近代物理實驗教學使用，也可以作為測量材料性、 光譜及磁光 作用的研究應用。 

儀器主要參數： 

1.氦氖激光器 波長 632.8nm 輸出率 >1.5mW 光斑直徑 2.6mm 

2.電磁鐵 zui大磁感應強度 1.28T 

3.勵磁電源 zui大輸出電 5A zui大輸出電壓 30V 

4.低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm 

5.法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm 

6.干涉濾光片 中心波長 546.1nm 

7.讀數顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍 8mm 

8.法拉效應 zui小測角 2分 

 5.               磁光效應綜合實驗儀（法拉效應和磁光調制）         型號；MHY-23025

1945年，法拉（Faraday）在探索電磁現象和光學現象之間的時，發現了種現象，當束平面偏振光穿過介質時，如果在介質中，沿光的傳播方向上加個磁場，就會觀察到光經過樣品后偏振面轉過個角度，亦即磁場使介質具有了旋光性，這種現象后來稱為法拉效應。 

法拉效應有許多應用，它可以作為物質研究的手段，可以用來測量載子的有效質量和提供能帶結構的知識，還可以用來測量電路中的電和磁場，別是在激光中，利用法拉效應的性可以制成光隔離器、光環形器和調制器等。 

MHY-23025型磁光效應綜合實驗儀，是臺綜合研究磁光效應的實驗儀器，通過該實驗儀可以學習法拉效應的原理，并通過偏振光正交消光法測量樣品的費爾德常數，還可以通過磁光調制的方法確定消光位置，從而提測量度，這種由淺入深的測量方法使學生理解測量的方法。并通過調制的方法可以測量不同磁光樣品的光學性和征參量，另外該儀器可以顯示磁光調制波形，觀測磁光調制現象，研究調制幅度和調制深度的原理。本儀器有下列性：1）可對磁光效應差異懸殊的多種磁光介質行實驗；2）具有大幅度的交調制信號和直勵磁，且穩勵磁正負連續可調；3）光強輸出大小用數字顯示，直觀；4）調制光接收靈敏度，輸出波形穩定；5）檢偏裝置帶游標測角機構，分辨率。 

儀器主要參數： 

1．磁光介質 法拉旋光玻璃 

2．激光光源 半導體激光器（波長650nm）輸出率 <2.5mW 

3．直勵磁電 0—5A(連續可調，數字顯示) 

4．調制信號 頻率500Hz(正弦波) 

5．起偏器角度分辨率 1度 

6．檢偏分辨率 約3分