介電常數(shù)測試儀  型號(hào)：MHY-28966

MHY-28966系列 介電常數(shù)測試儀由頻阻抗分析儀、測試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對緣材料行低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

MHY-28966系列作頻率范圍是20Hz～1MHz,它能成作頻率內(nèi)對緣材料的相對介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測試。

MHY-28966系列中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器般用來夾被測樣品，配用頻阻抗分析儀作為示儀器。緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。

1 點(diǎn)：                            
◎ 頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值度和重復(fù)性。

◎ 介電常數(shù)測量范圍可達(dá)1～105

2 主要標(biāo)：

2.1 ε和D性能：

2.1.1 固體緣材料測試頻率20Hz～1MHz的ε和D變化的測試。

2.1.2 ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

2.1.3 ε和D測量度（10kHz）：ε：±2% ，  D：±5%±0.0001。

作頻率范圍

100Hz～100kHz（6個(gè)頻點(diǎn)）

度：±0.05%

20Hz～1MHz

數(shù)字合成，度：±0.02%

電容測量范圍

0.0001pF～99999μF

四位數(shù)顯

0.00001pF～9.99999F

六位數(shù)顯

電容測量基本誤差

±0.05%

±0.05%

損耗因素D值范圍

0.0001～9.9999

四位數(shù)顯

0.00001～9.99999

六位數(shù)顯

2.3 HAD-Y916B 介電常數(shù)測試裝置（含保護(hù)電）

2.3.1 平板電容器片尺寸：Φ38mm和Φ50mm二種可選.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm， ±0.001mm
2.3.3插頭間距：與電橋四端配合

加溫控溫裝置(選購設(shè)備)可以成zui200℃控溫度l℃加熱測試

HAD-Y918 介電常數(shù)測試裝置提供四種不同直徑測試電，能對直徑φ10～56mm，

厚度<10mm的試樣測量。它針對不同試樣可設(shè)置為接觸電法，薄膜電法和

非接觸法三種，以適應(yīng)軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。

2.4.1 微分頭分辨率：10μm

2.4.2 zui耐壓：±42Vp（AC+DC）

2.4.3 電纜長度設(shè)置：1m

2.4.4 zui使用頻率：30MHz

2.5 頻介質(zhì)樣品（選購件）：
 在現(xiàn)行頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定為頻介質(zhì)損耗測量儀

提供的測量標(biāo)準(zhǔn)是頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人藍(lán)寶石，石英玻璃，

氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。

用戶可按需訂購，以保證測試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

2.6 MHY-28966系列 配置

配置類型

普及型

標(biāo)準(zhǔn)型

型

電橋作頻率范圍

100Hz～100kHz

度：±0.02%

50Hz～1MHz

度：±0.02%

50Hz～1MHz

度：±0.02%

配置型號(hào)

WY2817數(shù)字電橋

+WY916B測試裝置

WY2818A頻阻抗分析儀

+WY916B三電測試裝置

WY2818A頻阻抗分析儀

+WY918測試裝置

（能適宜各種樣品）

介電常數(shù)范圍

1-10000

度：±5%

1-10000

度：±2%

1-10000

度：±2%

損耗因素D值范圍

0.0001～9.9999

四位數(shù)顯

0.00001～9.99999

六位數(shù)顯

0.00001～9.99999

六位數(shù)顯